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PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類產(chǎn)品展示/ Product display
日本seiwaopt晶圓微裂紋檢測近紅外鹵素光源金屬裂紋、氣孔、夾雜物檢測；熱處理效果分析，專為無損檢測設(shè)計，特別適用于硅晶圓內(nèi)部檢查和背面圖案觀察等應用。
產(chǎn)品型號：SIS-150-AIR廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時間：2026-02-25訪 問 量：20
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日本seiwaopt晶圓微裂紋檢測近紅外鹵素光源
日本seiwaopt晶圓微裂紋檢測近紅外鹵素光源
| 行業(yè) | 具體應用 |
|---|---|
| 半導體制造 | Si晶圓內(nèi)部雜質(zhì)、微裂紋檢測；背面電路圖案觀察 |
| 食品/農(nóng)產(chǎn)品 | 水果糖度分布、水分含量無損檢測；蟲害及成熟度分析 |
| 制藥/生物 | 藥片成分均勻性檢測；生物組織熒光成像 |
| 鋼鐵/金屬 | 金屬裂紋、氣孔、夾雜物檢測；熱處理效果分析 |
| 規(guī)格項目 | SIS-150-NIR | SIS-150-AIR |
|---|---|---|
| 額定輸入電壓 | AC100-240V | AC100-240V |
| 額定輸入頻率 | 50/60Hz | 50/60Hz |
| 照明方式 | 直流點燈方式 | 直流點燈方式 |
| 照射波長 | 400～1100nm | 400～1700nm |
| 峰值波長 | 800nm | 1000nm |
| 光強調(diào)節(jié) | 輸出電壓可變（DC2V～15V），光強0.1%～100%可調(diào) | 同左 |
| 保護功能 | 過流保護（電源重啟恢復）、過溫保護（自動恢復） | 同左 |
| 冷卻方式 | 強制風扇冷卻 | 強制風扇冷卻 |
| 工作溫度/濕度 | 0℃～40℃ / 20%～80%RH（無結(jié)露） | 同左 |
| 外形尺寸 | W124 × H165 × D224mm（不含突起） | 同左 |
| 重量 | 約2.7kg | 約2.7kg |
| 光導要求 | 標準規(guī)格 | 需專用耐熱光導 |
郵箱：akiyama_zhou@163.com
傳真：
地址：廣東省深圳市龍崗區(qū)龍崗街道新生社區(qū)新旺路8號和健云谷2棟10層1002
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