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日本dai-ichi-rika環(huán)球法樹脂軟化點測試儀 EX-820 自動軟化點測定裝置是用于測定石油瀝青、樹脂、熱熔膠、焦油瀝青、油脂等物質(zhì)的軟化點的設(shè)備，符合JIS K2207標準，測試過程自動進行。 產(chǎn)品特點： 可以同時進行1～2個樣品的測定。 使用水作為熱媒體，最高可達80℃，超過80℃則使用甘油。 設(shè)備程序確保溫度上升速率為5℃±0.5℃/min，不受環(huán)境溫度影響。 設(shè)備自動檢測樣品軟化并

日本syscom防潮薄膜纖維包裝水蒸氣透過率儀 透濕度測試設(shè)備，主要用于測量包裝材料（如食品和醫(yī)藥品包裝）、防潮薄膜、纖維產(chǎn)品、涂層、涂膜、粘合劑等的水蒸氣透過率（WVTR） 主要用途： 包裝材料的透濕性測試。 防潮薄膜、纖維產(chǎn)品、涂層、涂膜、粘合劑等的透濕性測試。

日本syscom防濕包裝材料薄膜透濕度測試儀 透濕度測試設(shè)備，主要用于測量包裝材料（如食品和醫(yī)藥品包裝）、防潮薄膜、纖維產(chǎn)品、涂層、涂膜、粘合劑等的水蒸氣透過率 主要用途： 包裝材料的透濕性測試。 防潮薄膜、纖維產(chǎn)品、涂層、涂膜、粘合劑等的透濕性測試。

日本k-axis食品研究機構(gòu)用面包體積測定儀 該設(shè)備可以快速簡單地測量非定形立體（如面包、糕點等）的體積、尺寸（長、寬、高）以及重量和比重（需選配）。 特別為面包食品行業(yè)設(shè)計，能夠立即在記錄表上顯示“縱橫比”和“彈性”的計算結(jié)果。 該設(shè)備適用于研究開發(fā)和品質(zhì)管理，有助于開辟新的研究和管理領(lǐng)域。 與之前廣泛使用的“菜種置換法”相比，該設(shè)備可以提供高精度和穩(wěn)定性的數(shù)據(jù)，不受個人差異影響。

日本otsuka大塚多樣品納米粒子徑測試儀 nanoSAQLA是一種通過動態(tài)光散射法（DLS法）測量粒徑（粒徑范圍0.6nm~10um）的設(shè)備。 支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測定的新光學系統(tǒng)，實現(xiàn)實驗室必需的輕量、小型化、標準1分鐘的高速測定。 非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動取樣器、標準配備“5檢體連續(xù)測量”的新產(chǎn)品。

otsuka大塚電池材料研發(fā)ZETA電位粒徑測試儀 非常適用于界面化學、無機物質(zhì)、半導體、聚合物、生物學、制藥和醫(yī)學領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應用研究，不僅涉及微小顆粒，還涉及薄膜和平板表面的科學研究。

otsuka大塚半導體漿料ZETA電位徑粒測試儀 非常適用于界面化學、無機物質(zhì)、半導體、聚合物、生物學、制藥和醫(yī)學領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應用研究，不僅涉及微小顆粒，還涉及薄膜和平板表面的科學研究。

日本otsuka大塚新ZETA電位計兼納米粒度儀 可根據(jù)用途增加功能(分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網(wǎng)眼結(jié)構(gòu)分析、粒徑多角度測定) ● 可以用標準流動池連續(xù)測量粒徑和zeta電位 ● 可以測量從稀薄到濃厚溶液(~40% )的廣泛濃度范圍的粒徑zeta電位 ● 可以在高鹽濃度下測定平板狀樣品的zeta電位 ● 可在0~90℃的廣闊溫度范圍內(nèi)進行測量