日本jeol實驗室臺式自動掃描電子顯微鏡

日本jeol實驗室臺式自動掃描電子顯微鏡

主要特點

1. 樣品交換導航功能 - "放入樣品，無需猶豫即可觀察"

1. 按照樣品交換導航插入樣品
2. 利用真空排氣時間進行觀察準備
3. 自動開始觀察

 Zeromag功能 - "光學圖像放大即為SEM圖像"

3. Live Analysis功能 - "觀察中隨時進行元素分析"

4. Simple SEM功能 - "多樣化的自動測量"

• 高精度樣品臺實現(xiàn)自動測量
• 改進的樣品臺精度使多視野連續(xù)測量和自動測量更加實用

5. 大口徑EDS系統(tǒng) - "分析更快速"

• 分析速度快：短時間內(nèi)可獲得與傳統(tǒng)EDS同等質(zhì)量的光譜，多點分析更高效
• 熱敏感樣品安心：傳統(tǒng)EDS需要大電流，可能造成熱損傷；60 mm2 EDS可在降低電流下進行元素分析，抑制熱損傷
• 短時間清晰元素圖：即使測量時間僅1分鐘，也能獲得清晰的元素圖

• 樣品：石鐵隕石
• 加速電壓：15 kV
• 測量時間：1分鐘
• 結(jié)果：元素圖清晰可辨

技術亮點

緊湊型設計

• JEOL緊湊型臺式SEM
• 節(jié)省實驗室空間
• 適合各種工作環(huán)境

5軸電機驅(qū)動樣品臺

• 全軸電機驅(qū)動，操作更精準
• 提高樣品定位精度
• 支持復雜自動測量程序

智能化操作

• 導航式操作流程
• 自動功能減少人為誤差
• 適合新手和經(jīng)驗豐富的用戶

集成分析功能

• 觀察與分析一體化
• 實時元素分析
• 提高工作效率

應用領域

• 材料科學：金屬、陶瓷、復合材料表面形貌觀察
• 生命科學：生物樣品、細胞結(jié)構觀察
• 半導體工業(yè)：芯片、器件表面缺陷檢測
• 納米技術：納米材料形貌表征
• 失效分析：產(chǎn)品表面缺陷和污染分析
• 地質(zhì)礦物：巖石、礦物樣品成分分析
• 質(zhì)量控制：工業(yè)產(chǎn)品表面質(zhì)量檢測

產(chǎn)品優(yōu)勢

1. 操作簡便：導航式操作，降低學習成本
2. 緊湊設計：節(jié)省空間，適合各種實驗室環(huán)境
3. 自動化程度高：支持無人值守操作
4. 分析集成：觀察與元素分析同步進行
5. 高精度樣品臺：5軸電機驅(qū)動，定位精準
6. 大口徑EDS：標配60 mm2 EDS，分析更高效
7. 多視野測量：自動連續(xù)測量多個區(qū)域
8. 圖像聯(lián)動：光學圖像與SEM圖像無縫切換