液晶顯示器觸控評估自動電阻率測定儀
液晶顯示器觸控評估自動電阻率測定儀

1. 超大行程
• 有效測量區(qū)域 600 mm × 600 mm（可選 800 mm × 1200 mm 定制），一次裝夾即可完成整板 mapping，無需拼接。
• 最小步距 0.1 mm，定位精度 ±5 μm，重復精度 ±3 μm。
2. 與主機 MCP-T710 聯動
• 覆蓋 10?? – 10? Ω 低阻量程，四探針/環(huán)電極一鍵切換，自動完成表面電阻率 Ω/□ 與體積電阻率 Ω·cm 計算。
• 數據實時回傳，無需人工記錄。
3. 高速測量
• 伺服電機 + 滾珠絲杠平臺，單點移動 ≤ 0.4 s；整板 50×50 點＜ 15 min 完成。
• 支持“邊緣加密"、“隨機抽點"、“Line scan"等多種測量模式。
4. 一鍵生成 3D 分布圖與統計報告
• 軟件內置 3D 色階圖、等高線、直方圖、CPK 計算，膜厚不均、針孔、條狀電阻差異“一目了然"。
• 報告可輸出 PDF/CSV，直接對接 MES/SPC 系統。
5. 不受樣品形狀影響
• Z 軸電動升降 50 mm，帶彈簧緩沖 4 探針單元，可貼合翹曲、波紋、曲面玻璃或薄膜。
• 探針壓力 0.3 – 1.0 N 軟件可調，防止薄型 ITO 膜劃傷。
6. 防靜電與潔凈室對應
• 花崗巖平臺 + 導電涂層罩，離子風機預留口；可選 FFU 頂部模塊，滿足 Class 1000 潔凈度。

• 第 8.5 代 ITO 玻璃、金屬網格（Cu/AgNW）觸控大板均勻性評價
• 光伏用透明導電玻璃（FTO、AZO）、鈣鈦礦電池電極層工藝優(yōu)化
• 柔性薄膜太陽能電池、5G 透明天線膜、EMI 屏蔽膜整卷來料檢驗
• 晶圓級金屬薄膜（Al、Cu、TiN）電鍍或濺射后均勻性確認
• 加熱膜、除霧膜、電子紙、汽車調光膜等大尺寸功能薄膜失效分析