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日本NPC手持式非接觸式面電阻測試儀高精度 sigma-5+ 探頭接觸樣品即自動開始測量 可通過JOG旋鈕快速設(shè)定測量條件 5種測量范圍探頭可根據(jù)樣品電阻率進(jìn)行更換 可選配P/N型判定量測功能 應(yīng)用：硅片樣品， 化合物半導(dǎo)體， 外延層， 擴(kuò)散層， 碳化硅， 薄膜材料， 金屬膜， ITO, IZO, Low-E玻璃, LED/OLED等材料

日本NPC電阻率測試儀測量儀器高精度多功能 sigma-5+ 這是一款手動型測量儀器，采用四探針法，可輕松準(zhǔn)確地測量太陽能電池用硅片、液晶基板、金屬薄膜等的方塊電阻或體積電阻。它支持從低電阻到高電阻的各種測量。 1) 用于硅錠制造→晶圓制造工序（成膜等各工序）的產(chǎn)品檢查　 2) 液晶面板（LCD基板）制造：成膜時的產(chǎn)品檢查 3) 用于各種導(dǎo)電材料制造過程中的產(chǎn)品檢驗

日本Toadkk便攜式離子計檢測儀帶背光功能 pH/ORP 纖薄設(shè)計，易于握在手中 具有背光功能 省電設(shè)計，也可使用充電電池 防水結(jié)構(gòu)（IP67：1 m，可浸泡 30 分鐘） 數(shù)據(jù)記憶功能（1500個數(shù)據(jù)）

日本toadkk面板式電導(dǎo)率儀用于半導(dǎo)體測量 WBM-100 緊湊的 DIN96 尺寸 微電腦計算溫度補(bǔ)償 具有細(xì)胞常數(shù)調(diào)節(jié)功能 可顯示水溫

日本ceramic forum半導(dǎo)體分析裝置測量結(jié)晶 HERA FT1230 DLTS方法是一款高感度測量結(jié)晶缺陷導(dǎo)致的電子狀態(tài)的良好方法。 即便是內(nèi)在微小的雜質(zhì)或格子缺陷也會很大程度上影響半導(dǎo)體材料性能，所以此類測量非常重要。

日本ceramic forum晶片內(nèi)位錯檢測儀便攜式 Crystalline Tester CS1 ”Crystalline Tester CS1”是非破壞性、非接觸式檢測可見光（波長400～800nm）透明性晶體材料中由于殘留的缺陷、應(yīng)力引起的晶格畸變后分布情況的便捷式檢測設(shè)備。通過本設(shè)備可以實現(xiàn)快速、準(zhǔn)確地把握目檢下無法看到的晶體晶格畸變的狀態(tài)。

日本RikenKeiki光波干涉式氣體監(jiān)測儀高性能 FI-8000 ?一臺設(shè)備最多可測量 8 種氣體 ?兩種吸入方式可供選擇： 　內(nèi)置泵自動吸入型 / 手持式吸氣器手動 　吸入型 ?配備間歇測量模式（僅限自動吸入型） 　記錄濃度值和時間，可在主機(jī)上查看氣體濃度變化 - 易于閱讀的大液晶屏清晰　顯示 　待測氣體類型、氣體濃度、測量單位和剩余電池電量

日本RikenKeiki便攜式多氣體監(jiān)測儀多功能 GX-6000 ?國內(nèi)制造商能夠用一臺設(shè)備同時 　檢測 ?適合根據(jù)工業(yè)安全衛(wèi)生法 　檢查！ ?可通過PID傳感器測量200種以上的目標(biāo)化學(xué)物質(zhì) ?可進(jìn)行多語言顯示（日語/英語/法語/西班牙語等） ?配備緊急警報功能和LED燈等方便的新功能